X線で、ポット植え作物の根を非破壊で可視化することに成功

2020/7/16

研究開発

かずさDNA研究所は、農研機構と共同で、X線CTを応用し、土中の作物の根を非破壊で迅速・簡便に3次元的に可視化する技術を開発しました。

作物の品種改良では、より良いものを選ぶために数千個体以上の調査が必要です。根は地中の養分や水分を吸収し、作物生産に大きく関わる重要な役割をはたしているにも関わらず、その観察の難しさから、改良はほとんど進んでいませんでした。農研機構とかずさDNA研究所は、X線を応用し、ポット栽培した作物の土中の根を掘り起こさずに簡便に3次元的に可視化する技術を開発しました。この成果により、根の形の品種改良をはじめ、根の生育診断による個々の農地に合った最適品種の選定など、農業分野での幅広い活用が期待できます。

詳しくは、農研機構のプレスリリースをご覧ください。

農研機構プレスリリース